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牛牛天天人人综合影院 日本napson非接触式电阻检测仪

时间:2020/11/16阅读:4169
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紧凑且易于操作的手动非接触式(涡流法)电阻测量仪

产品名称:EC-80

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[抗页电阻] 10m至3kΩ / sq
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

使用手持式探针的手动无损(涡流法)电阻测量仪

产品名称:EC-80P(便携式)

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[板电阻] 10m至3kΩ / sq
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
(5)太阳能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)

可通过个人计算机轻松操作的非接触(涡流法)电阻/薄层电阻测量装置

产品名称:NC-10(NC-20)

 

 

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[板电阻] 10m至3kΩ / sq
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

DUORES手持式薄层电阻测量仪(2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头])

产品名称:DUORES

测量目标

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延,离子与
半导体相关的进样样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)

薄膜,玻璃,纸材料等
通常,可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低电子玻璃
•碳纳米管,石墨烯材料
•金属材料(纳米线,网格,网眼)
•其他

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