牛牛天天人人综合影院 四探针测试仪/ 四探针电阻率检测仪

【资料简介】

 四探针测试仪/ 四探针电阻率检测仪型号：BT-300H

四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。
仪器主要技术指标：
1．   范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，
    分辩率为10-6Ω—cm
         方块电阻10-3—103Ω /电阻10-6—105Ω
2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm
3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）
4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
  (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）
              2 mV档以上±（0.3%读数+2字）
  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω
              20mV档以上>108Ω
5．  恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给
   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档
   （3）电流误差：±（0.3%读数+2字）
6．四探针测试探头  （1）探头间距：1mm   (2)探针机械游率：±0.3%
                   (3) 探针：Φ0.5mm

四探针电阻率检测仪/四探针导体/半导体电阻率测量仪  型号：TD-SB100A/3

由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
TD-SB100A/3型四探针导体/半导体电阻率测量仪是由SB118/1型精密电压电流源以及SB120/2四探针样品平台二台仪器构成。
l            SB118型精密直流电压电流源 （详见该产品使用说明书）
直流电流源
a)        电流输出范围：1nA~200mA，输出电压不小于5V；
b)        量程：分五档，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；
c)        电流输出的基本误差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA为0.05%RD±0.02%FS。
直流电压源
a)        电压输出范围：5μV~50V，负载电流不小于10mA（20mV以上）；
b)        量程：分五档，20mV、200mV、2V、20V、50V，每档均有粗调和细调；
c)        电压输出的基本误差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。
数字电压表（4½LED）利用电压源部分“取样”端可对被测电压进行测试
a)        测量量程   20mV，200mV，2V，20V，200V
b)        zui高分辨力  可达1µV
c)        基本误差为 0.03%RD±0.02%FS   （20±2ºC）
l            SB120/2四探针样品平台（详见该产品使用说明书）
为被测薄膜样品，利用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和电阻率，提供了方便。

公司名称：北京同德创业科技有限公司
联 系 人：苏
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:     2495283342
地    址：北京市通州区新华北街117号
网    站：www.5117sel.com